對半導(dǎo)體集成芯片 (IC) 的需求持續(xù)增長，并推動(dòng)了對更精確和密度更高的半導(dǎo)體測試設(shè)備（如自動(dòng)測試設(shè)備 (ATE)）的需求增加。ATE 是容納各種測試板的密集測試設(shè)備，每個(gè)測試板都能夠提供或測量各種類型的數(shù)字測試圖形、任意波形、強(qiáng)大的直流電壓源、電流源等。高資源密度和縮小電路板尺寸是實(shí)現(xiàn)更高測試吞吐量的關(guān)鍵。

例如，ATE 中的一種資源是源測量單元 (SMU) 儀器，它可以提供電流/電壓并測量電流/電壓。SMU 資源將兩款儀器（可編程電源和數(shù)字萬用表）的功能集于一身。根據(jù)具體規(guī)格，某些 SMU 還可以串聯(lián)堆疊，如圖 2-7 所示，以達(dá)到需要更高偏置電壓的半導(dǎo)體技術(shù)所要求的更高測試電壓。

ISO65xx 等功能隔離器為空間受限的應(yīng)用提供了尺寸優(yōu)勢，常見于測試和測量卡。ISO65xx 可用于中央控制 ASIC 和每個(gè) SMU 卡之間。當(dāng)多個(gè) SMU 卡疊放時(shí)，ISO65xx 會阻斷高電壓共模，而不會在隔離柵上引入漏電流。通常，每種資源都具有相對于測試儀接地的最大電壓規(guī)格，這決定了設(shè)計(jì)中所需的功能隔離器工作電壓 (V_IOWM)。