ZHCSK57T December 1976 – March 2025 ULN2002A , ULN2003A , ULN2003AI , ULN2004A , ULQ2003A , ULQ2004A
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
-
5 規(guī)格
- 5.1 絕對最大額定值
- 5.2 ESD 等級
- 5.3 建議運(yùn)行條件
- 5.4 熱性能信息
- 5.5 電氣特性：ULN2002A
- 5.6 電氣特性：ULN2003A 和 ULN2004A
- 5.7 電氣特性：ULN2003AI
- 5.8 電氣特性：ULN2003AI
- 5.9 電氣特性：ULQ2003A 和 ULQ2004A
- 5.10 開關(guān)特性：ULN2002A、ULN2003A、ULN2004A
- 5.11 開關(guān)特性：ULN2003AI
- 5.12 開關(guān)特性：ULN2003AI
- 5.13 開關(guān)特性：ULQ2003A、ULQ2004A
- 5.14 典型特性
- 6 參數(shù)測量信息
- 7 詳細(xì)說明
- 8 應(yīng)用和實(shí)現(xiàn)
- 9 器件和文檔支持
- 10修訂歷史記錄
- 11機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項(xiàng)
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- N|16
- D|16
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
6 參數(shù)測量信息
圖 6-1 ICEX 測試電路
圖 6-3 II(off) 測試電路
II 用于測量 VCE(sat) 時(shí)為固定值，用于測量 hFE 時(shí)可變。
圖 6-5 hFE、VCE(sat) 測試電路
圖 6-2 ICEX 測試電路
圖 6-4 II 測試電路
圖 6-6 VI(on) 測試電路
圖 6-7 IR 測試電路
圖 6-8 VF 測試電路
圖 6-9 傳播延遲時(shí)間波形
脈沖發(fā)生器具有以下特性：PRR = 12.5kHz，ZO = 50?。
CL 包括探頭和夾具電容。
測試 ULN2003A 器件、ULN2003AI 器件和 ULQ2003A 器件時(shí)，VIH = 3V；測試 ULN2002A 器件時(shí)，VIH = 13V；測試 ULN2004A 和 ULQ2004A 器件時(shí)，VIH = 8V。
圖 6-10 閂鎖測試電路和電壓波形