ZHCSIS7E September 2018 – November 2024 UCC21540 , UCC21540A , UCC21541 , UCC21542
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
UCC21540UCC2154x 的結(jié)溫可以通過以下公式進行估算:

其中
使用結(jié)至頂特征參數(shù) (ΨJT) 代替結(jié)至外殼熱阻 (RΘJC) 可以極大地提高結(jié)溫估算的準確性。大多數(shù) IC 的大部分熱能通過封裝引線釋放到 PCB 中,而總能量中僅有一小部分通過外殼頂部(通常在此處進行熱電偶測量)進行釋放。只有在大部分熱能通過外殼釋放時(例如采用金屬封裝或?qū)?IC 封裝應(yīng)用散熱器時),才能有效地使用 RΘJC 電阻。在所有其他情況下,使用 RΘJC 將無法準確地估算真實的結(jié)溫。ΨJT 是通過假設(shè)通過 IC 頂部的能量在測試環(huán)境和應(yīng)用環(huán)境中相似而通過實驗得出的。只要遵循建議的布局指南,就可以準確地進行結(jié)溫估算,將誤差限制在幾攝氏度內(nèi)。更多信息,請參閱節(jié) 11.1和《半導體和 IC 封裝熱指標》應(yīng)用報告。