ZHCSK91A August 2019 – September 2019 TPS23882
PRODUCTION DATA.
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說(shuō)明
- 4 器件比較表
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
- 7 參數(shù)測(cè)量信息
-
8 詳細(xì) 說(shuō)明
- 8.1 概述
- 8.2 功能方框圖
- 8.3 功能 說(shuō)明
- 8.4 器件功能模式
- 8.5 I2C 編程
- 8.6
寄存器映射
- 8.6.1 完整寄存器組
- 8.6.2
詳細(xì)的寄存器說(shuō)明
- 8.6.2.1 中斷寄存器
- 8.6.2.2 中斷屏蔽寄存器
- 8.6.2.3 電源事件寄存器
- 8.6.2.4 檢測(cè)事件寄存器
- 8.6.2.5 故障事件寄存器
- 8.6.2.6 啟動(dòng)/ILIM 事件寄存器
- 8.6.2.7 電源和故障事件寄存器
- 8.6.2.8 通道 1 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.9 通道 2 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.10 通道 3 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.11 通道 4 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.12 電源狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.13 引腳狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.14 工作模式寄存器
- 8.6.2.15 斷開(kāi)使能寄存器
- 8.6.2.16 檢測(cè)/分級(jí)使能寄存器
- 8.6.2.17 功率優(yōu)先級(jí)/2 線對(duì) PCUT 禁用寄存器名稱
- 8.6.2.18 時(shí)序配置寄存器
- 8.6.2.19 通用屏蔽寄存器
- 8.6.2.20 檢測(cè)/分級(jí)重啟寄存器
- 8.6.2.21 電源使能寄存器
- 8.6.2.22 復(fù)位寄存器
- 8.6.2.23 ID 寄存器
- 8.6.2.24 連接檢查和 Auto Class 狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.25 2 線對(duì)管制通道 1 配置寄存器
- 8.6.2.26 2 線對(duì)管制通道 2 配置寄存器
- 8.6.2.27 2 線對(duì)管制通道 3 配置寄存器
- 8.6.2.28 2 線對(duì)管制通道 4 配置寄存器
- 8.6.2.29 電容（傳統(tǒng) PD）檢測(cè)
- 8.6.2.30 加電故障寄存器
- 8.6.2.31 端口重映射寄存器
- 8.6.2.32 通道 1 和 2 多位優(yōu)先級(jí)寄存器
- 8.6.2.33 通道 3 和 4 多位優(yōu)先級(jí)寄存器
- 8.6.2.34 端口功率分配寄存器
- 8.6.2.35 溫度寄存器
- 8.6.2.36 輸入電壓寄存器
- 8.6.2.37 通道 1 電流寄存器
- 8.6.2.38 通道 2 電流寄存器
- 8.6.2.39 通道 3 電流寄存器
- 8.6.2.40 通道 4 電流寄存器
- 8.6.2.41 通道 1 電壓寄存器
- 8.6.2.42 通道 2 電壓寄存器
- 8.6.2.43 通道 3 電壓寄存器
- 8.6.2.44 通道 4 電壓寄存器
- 8.6.2.45 2x 折返選擇寄存器
- 8.6.2.46 固件版本寄存器
- 8.6.2.47 I2C 看門狗寄存器
- 8.6.2.48 器件 ID 寄存器
- 8.6.2.49 通道 1 檢測(cè)電阻寄存器
- 8.6.2.50 通道 2 檢測(cè)電阻寄存器
- 8.6.2.51 通道 3 檢測(cè)電阻寄存器
- 8.6.2.52 通道 4 檢測(cè)電阻寄存器
- 8.6.2.53 通道 1 檢測(cè)電容寄存器
- 8.6.2.54 通道 2 檢測(cè)電容寄存器
- 8.6.2.55 通道 3 檢測(cè)電容寄存器
- 8.6.2.56 通道 4 檢測(cè)電容寄存器
- 8.6.2.57 通道 1 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.58 通道 2 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.59 通道 3 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.60 通道 4 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.61 AUTO CLASS 控制寄存器
- 8.6.2.62 通道 1 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.63 通道 2 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.64 通道 3 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.65 通道 4 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.66 備用折返寄存器
- 8.6.2.67 SRAM 控制寄存器
- 8.6.2.68 SRAM 起始地址 (LSB) 寄存器
- 8.6.2.69 SRAM 起始地址 (MSB) 寄存器
- 9 應(yīng)用和實(shí)現(xiàn)
- 10電源建議
- 11布局
- 12器件和文檔支持
- 13機(jī)械、封裝和可訂購(gòu)信息
封裝選項(xiàng)
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTQ|56
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTQ|56
訂購(gòu)信息
5 引腳配置和功能
帶外露散熱焊盤的 RTQ 封裝
56 引腳 VQFN
俯視圖
引腳功能
| 引腳 | I/O | 說(shuō)明 | |
|---|---|---|---|
| 名稱 | NO. | ||
| A1-4 | 48–51 | I | I2C A1-A4 地址線。這些引腳在內(nèi)部上拉至 VDD。 |
| AGND | 21 | — | 模擬接地。連接到 GND 平面和外露散熱焊盤。 |
| DGND | 46 | — | 數(shù)字接地。連接到 GND 平面和外露散熱焊盤。 |
| DRAIN1-8 | 3、5、10、12、31、33、38、40 | I | 通道 1-8 輸出電壓監(jiān)測(cè)。 |
| GAT1-8 | 1、7、8、14、29、35、36、42 | O | 通道 1-8 柵極驅(qū)動(dòng)輸出。 |
| INT | 45 | O | 中斷輸出。當(dāng)中斷寄存器中的某一位被置位時(shí)，該引腳置為低電平。此輸出為漏極開(kāi)路。 |
| KSENSA/B | 4、11 | I | SEN1-4 的開(kāi)爾文點(diǎn)連接 |
| KSENSC/D | 32、39 | I | SEN5-8 的開(kāi)爾文點(diǎn)連接 |
| NC | 15、16、18、19 | O | 無(wú)連接引腳。這些引腳在內(nèi)部偏置為 VPWR 的 1/3 和 2/3，以便控制 VPWR 的電壓梯度。保持?jǐn)嚅_(kāi)。 |
| 22、27、28、52 | — | 無(wú)連接引腳。保持?jǐn)嚅_(kāi)。 | |
| OSS | 56 | I | 通道 1-8 快速關(guān)斷。此引腳在內(nèi)部下拉至 DGND。 |
| RESET | 44 | I | 復(fù)位輸入。置位為低電平時(shí)，TPS23882 復(fù)位。此引腳在內(nèi)部上拉至 VDD。 |
| SCL | 53 | I | I2C 總線的串行時(shí)鐘輸入。 |
| SDAI | 54 | I | I2C 總線的串行數(shù)據(jù)輸入。此引腳可連接到非隔離式系統(tǒng)的 SDAO。 |
| SDAO | 55 | O | I2C 總線的串行數(shù)據(jù)輸出。此引腳可連接到非隔離式系統(tǒng)的 SDAI。此輸出為漏極開(kāi)路。 |
| AUTO | 52 | I/O | 自主模式使能和選擇引腳。 |
| SEN1-8 | 2、6、9、13、30、34、37、41 | I | 通道 1-8 電流檢測(cè)輸入。 |
| TEST0-5 | 20、23、24、25、26、47 | I/O | 內(nèi)部使用，僅用于測(cè)試目的。保持?jǐn)嚅_(kāi)。 |
| 散熱焊盤 | — | — | DGND 和 AGND 端子必須連接到外露散熱焊盤才能確保正確運(yùn)行。 |
| VDD | 43 | — | 數(shù)字電源。通過(guò) 0.1µF 電容旁路至 DGND 引腳。 |
| VPWR | 17 | — | 模擬 54V 正電源。通過(guò) 0.1µF 電容旁路至 AGND 引腳。 |