ZHCSLF7F December 2019 – June 2024 ISO6740-Q1 , ISO6741-Q1 , ISO6742-Q1
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
絕緣壽命預測數(shù)據(jù)是使用業(yè)界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側的所有引腳都連在一起,構成了一個雙端子器件,并在兩側之間施加高電壓;對于 TDDB 測試設置,請參閱 圖 8-7。絕緣擊穿數(shù)據(jù)是在開關頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。對于增強型絕緣,VDE 標準要求使用故障率小于 1 ppm 的 TDDB 預測線。盡管額定工作隔離電壓條件下的預期最短絕緣壽命為 20 年,但是 VDE 增強認證要求工作電壓具有額外 20% 的安全裕度,壽命具有額外 50% 的安全裕度,也就是說在工作電壓高于額定值 20% 的條件下,所需的最短絕緣壽命為 30 年。
圖 8-8 所示為隔離柵在整個壽命期內承受高壓應力的固有能力。根據(jù) TDDB 數(shù)據(jù),固有絕緣能力為 1500VRMS,壽命為 36 年。其他因素,比如封裝尺寸、污染等級、材料組等,可能會進一步限制元件的工作電壓。DW-16 封裝的工作電壓上限值可達 1500VRMS。較低工作電壓所對應的絕緣壽命遠遠超過 36 年。
圖 8-7 絕緣壽命測量的測試設置